[发明专利]密封件老化试验系统及方法有效
申请号: | 201810102730.0 | 申请日: | 2018-02-01 |
公开(公告)号: | CN108254174B | 公开(公告)日: | 2023-06-16 |
发明(设计)人: | 薛楠;陈宇;陈雪晴;程丛高 | 申请(专利权)人: | 中国航空综合技术研究所 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
代理公司: | 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 | 代理人: | 舒丽亚 |
地址: | 100028 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种密封件老化试验系统,其包括老化环境模拟箱、温度传感器、外筒、密封件工装、管路、阀、气动元件、温度传感器以及工作介质容器,温度传感器与密封件工装相连,外筒设置在老化环境模拟箱内部,外筒的上端面处设置有接口,密封件工装中设置有内部具有空腔及导流孔的阀芯,空腔能够进行管路连接;气动元件通过管路分别与密封件工装与外筒进行连通,上述各处连接管路上均设置有阀,工作介质容器通过管路分别与密封件工装和外筒进行连通,且此处管路上设置有用于泄压的部件。本发明中还提供了一种用于密封件老化的试验方法。本发明能够对工作应力和环境应力耦合的老化环境进行模拟,自动化程度高且试验效率高。 | ||
搜索关键词: | 密封件 老化试验 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种密封件老化试验系统,其特征在于:包括老化环境模拟箱、温度传感器、外筒、密封件工装、管路、用于通断以及流量控制的开关部件、动力组件以及工作介质容器,老化环境模拟箱设置有箱盖,用于显示老化环境模拟箱内加热介质的温度数值以及用于外筒内产品工作介质的温度数值的温度传感器与外筒内腔相连,用于显示密封件工装内部空腔的温度数值的温度传感器与密封件工装内部空腔相连通,外筒设置在老化环境模拟箱内部,外筒的上端面设置在老化环境模拟箱的箱盖上,所述外筒上端面处设置有配置用于管路连接的接口,密封件工装中设置有内部具有空腔及导流孔的阀芯,所述空腔能够与管路进行连接;所述动力组件通过管路分别与连接至所述接口的管路进行连通,所述工作介质容器通过管路分别与试验件工装和外筒进行连通。
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