[发明专利]一种光纤光栅温度系数的测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 201810109757.2 | 申请日： | 2018-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN108414089B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 沈华;关智文;汤亚洲;朱日宏;韩志刚;矫岢蓉;舒剑;卓烜;葛诗雨 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱沉雁 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光纤光栅温度系数测量装置及其测量方法，包括光纤激光器、多模泵浦+信号光合束器、红外热像仪、剥离器和N个半导体激光器，将光纤激光器的低反光栅的一端引出与剥离器的一端熔接，剥离器的另一端和N个半导体激光器分别与多模泵浦+信号光合束器的信号输入端熔接，待测光纤光栅一端与多模泵浦+信号光合束器的信号输出端熔接，另一端斜切，红外热像仪扫描待测光纤光栅。通过仅打开半导体激光器、仅打开光纤激光器和同时打开光纤激光器和半导体激光器三种模式，实时测量待测光纤光栅的温度系数，分析待测光纤光栅发热原因并进行相应的处理。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 光纤激光器 光栅 待测光纤 信号光合束器 剥离器 多模泵 熔接 红外热像仪 光纤光栅 温度系数 测量 温度系数测量 斜切 信号输出端 信号输入端 测量装置 发热原因 三种模式 实时测量 反光栅 扫描 分析 | ||
【主权项】：
1.一种光纤光栅温度系数测量装置，其特征在于：包括中心波长为λ1的光纤激光器、多模泵浦+信号光合束器、红外热像仪、剥离器和N个半导体激光器，其中N≥2，将光纤激光器的低反光栅的一端引出与剥离器的一端熔接，剥离器的另一端和N个半导体激光器分别与多模泵浦+信号光合束器的信号输入端熔接，待测光纤光栅一端与多模泵浦+信号光合束器的信号输出端熔接，另一端斜切，红外热像仪扫描待测光纤光栅，测量待测光纤光栅的温度。
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