[发明专利]基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法有效

专利信息
申请号: 201810110498.5 申请日: 2018-02-05
公开(公告)号: CN108375767B 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 李青侠;窦昊锋;桂良启;李育芳;吴袁超;雷振羽 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法,包括:根据天线阵列与x方向的反射板得到天线阵列输出的第一相关函数构成的第一线性方程组;根据天线阵列与x方向以及y方向的反射板得到天线阵列输出的第二相关函数构成的第二线性方程组;根据天线阵列与y方向的反射板得到天线阵列输出的第三相关函数构成的第三线性方程组;将三个线性方程组进行组合得到包含场景亮温图像信息的目标线性方程组;通过求解包含场景亮温图像信息的目标线性方程组得到余弦可见度函数;利用余弦可见度函数进行反余弦变换,重建场景亮温图像。本发明提高余弦可见度函数的准确性,进而提高成像质量。
搜索关键词: 基于 反射 组合 综合 孔径 辐射计 成像 方法
【主权项】:
1.一种基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法,其特征在于,包括:S1:在镜像综合孔径辐射计中只有x方向存在反射板时,根据天线阵列与x方向的反射板得到天线阵列输出的第一相关函数构成的第一线性方程组;S2:在镜像综合孔径辐射计中x方向和y方向均存在反射板时,根据天线阵列与x方向的反射板以及y方向的反射板得到天线阵列输出的第二相关函数构成的第二线性方程组;S3:在镜像综合孔径辐射计中只有y方向存在反射板时,根据天线阵列与y方向的反射板得到天线阵列输出的第三相关函数构成的第三线性方程组;S4:将第一线性方程组、第二线性方程组和第三线性方程组进行组合,得到包含场景亮温图像信息的目标线性方程组;S5:通过求解包含场景亮温图像信息的目标线性方程组,得到余弦可见度函数;S6:利用余弦可见度函数进行反余弦变换,重建场景亮温图像。
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