[发明专利]触诊探头及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810125334.X 申请日: 2018-02-07
公开(公告)号: CN108178121A 公开(公告)日: 2018-06-19
发明(设计)人: 宋军华;王洪超;何常德;王晓琴;陈金;胡志杰;薄云峰;薛黄琦;何静 申请(专利权)人: 北京先通康桥医药科技有限公司
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02;B81C1/00;A61B5/00
代理公司: 北京中知法苑知识产权代理事务所(普通合伙) 11226 代理人: 常玉明
地址: 101318 北京市顺义*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种触诊探头及其制造方法,所述触诊探头所述触诊探头包括探头基座,以及位于所述探头基座上的MEMS传感器阵列,其中:所述MEMS传感器阵列中的各个MEMS传感器在行和列的方向均对齐排布,每行所述MEMS传感器共用一个下电极;所述探头基座包括被衬,所述被衬的表面设置有数量与所述MEMS传感器阵列行数相同的胶条槽;每行所述MEMS传感器通过设置在所述胶条槽内的第一导电胶条与所述被衬粘接。采用本发明提供的触诊探头及其制造方法,可以不使用线路板,减少触诊探头上的传感器与探头基座的连接线,使触诊探头具有结构紧凑、便于生产、封装结构稳定可靠性好等优点。
搜索关键词: 触诊 探头 探头基座 胶条槽 制造 稳定可靠性 连接线 表面设置 导电胶条 封装结构 阵列行数 线路板 对齐 传感器 下电极 排布 粘接 生产
【主权项】:
1.一种触诊探头,其特征在于,所述触诊探头包括探头基座,以及位于所述探头基座上的MEMS传感器阵列,其中:所述MEMS传感器阵列中的各个MEMS传感器在行和列的方向均对齐排布,每行所述MEMS传感器共用一个下电极;所述探头基座包括被衬,所述被衬的表面设置有数量与所述MEMS传感器阵列行数相同的胶条槽;每行所述MEMS传感器通过设置在所述胶条槽内的第一导电胶条与所述被衬粘接。
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