[发明专利]片材检查装置在审
| 申请号： | 201810133158.4 | 申请日： | 2018-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN108693196A | 公开（公告）日： | 2018-10-23 |
| 发明（设计）人： | 宫田佳昭;松下明 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种片材检查装置，在利用片材状的被检查物的外观图像的片材检查装置中，即使在被检查物的种类、检查环境等已发生变化时，也可以根据所述变化后的初始状态进行高精度的检查。片材检查装置(1)包括：照明构件(31)、(33)，对片材状的被检查物(2)照射光；拍摄构件(4)，用以拍摄所述被检查物；以及异常检测构件(5)，根据对所述拍摄构件所拍摄的图像的图像数据进行处理而获得的特征量，检测所述被检查物中所含的异常；所述异常检测构件是将从合格品的图像数据获得的所述特征量的分布设为成为检查的基准的基准分布，根据所述基准分布与从所述被检查物的图像数据获得的所述特征量的分布的相对关系，来检测异常。 | ||
| 搜索关键词： | 被检查物 检查装置 片材 图像数据 特征量 异常检测构件 拍摄构件 片材状 合格品 外观图像 照明构件 检查 拍摄 照射光 检测 图像 | ||
【主权项】：
1.一种片材检查装置，其特征在于，包括：照明构件，对片材状的被检查物照射光；拍摄构件，利用从所述照明构件照射至所述被检查物的光的反射光和/或透射光，拍摄所述被检查物的图像；以及异常检测构件，根据对所述拍摄构件所拍摄到的图像的图像数据进行处理而获得的特征量，检测所述被检查物中所含的异常；所述片材检查装置的特征在于：所述异常检测构件是将从合格品的图像数据获得的所述特征量的分布设为成为检查的基准的基准分布，根据所述基准分布与从所述被检查物的图像数据获得的所述特征量的分布的相对关系，来检测异常。
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