[发明专利]双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法有效
| 申请号： | 201810135800.2 | 申请日： | 2018-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN108334706B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 李兴冀;杨剑群;刘超铭;董尚利 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367;G06F111/08 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 毕雅凤 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法，涉及在轨双极器件的性能退化评价技术，为了满足针对不同类型辐照源的双极器件辐射损伤进行等效评价的需求。基于地面异种粒子辐照源，确定位移损伤引起的性能退化与位移吸收剂量的函数关系曲线；针对特定轨道和任务要求计算该轨道下的电离吸收剂量D |
||
| 搜索关键词： | 器件 位移 损伤 引起 性能 退化 等效 评价 方法 | ||
【主权项】：
1.双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、基于地面异种粒子辐照源，确定位移损伤引起的性能退化与位移吸收剂量的函数关系曲线；步骤二、针对特定轨道和任务要求计算该轨道下的电离吸收剂量DI和位移吸收剂量DD，当双极器件以位移损伤为主时，根据步骤一的函数关系曲线找到该位移吸收剂量DD所对应的性能退化情况，完成对在轨双极器件的性能退化的评价。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学，未经哈尔滨工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810135800.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
