[发明专利]一种基于模板匹配的低分辨率恒星连续谱自动拟合方法

摘要

本发明公开了一种基于模板匹配的低分辨率恒星连续谱自动拟合方法，包括5个步骤，利用现有的信噪比高的光谱(或者理论模板)确定好合理的连续谱，对待测光谱与这些光谱进行拟合，找到最佳匹配，然后利用信噪比高的光谱(或者理论模板)的连续谱作为待测光谱的连续谱。本发明属于天体光谱处理技术领域，具体是提供了一种操作简单、稳定性佳、实用性强、准确度高的基于模板匹配的低分辨率恒星连续谱自动拟合方法。

主权项

1.一种基于模板匹配的低分辨率恒星连续谱自动拟合方法，其特征在于，包括如下步骤：1)下载数据库中不同恒星参数(Teff，logg，[Fe/H])的Kurucz模板光谱；2)在步骤1)所述的模板光谱上选取位于连续谱上的点；3)利用B样条函数，拟合选择出来的点，对整个光谱波长范围进行插值；若B样条函数结果不是非常理想，则通过增加、减少选择的点或改变点的位置调节；4)对待测光谱处理，首先进行模板匹配，找到与待测光谱最接近的模板；由于待测光谱的流量值与模板光谱流量值存在尺度上的差异，通常相差一个倍数；且待测光谱受到星际消光等影响，存在一定的红化，或者待测光谱在做流量定标的时候，存在定标误差等等，在待测光谱与模板匹配的过程中，需要增加一个多项式进行调节，即匹配待测光谱与模板光谱*P(5)；P(5)为一个波长为自变量的5次多项式；匹配可以使用K平方的方法进行匹配；5)利用最佳匹配的模板的连续谱乘以步骤4)拟合的多项式作为待测光谱的连续谱；即待测光谱的连续谱＝通过人工选点B样条插值的连续谱(最佳匹配模板)*P(5)。