[发明专利]一种基于叉指电极的高分子溶液分散性测量方法有效
申请号: | 201810145620.2 | 申请日: | 2018-02-12 |
公开(公告)号: | CN108088880B | 公开(公告)日: | 2019-04-23 |
发明(设计)人: | 王云明;叶庆莹;周华民;张云;黄志高;张逸 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N27/30 | 分类号: | G01N27/30;G01N27/22 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 许恒恒;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属于高分子溶液分散性测量的技术领域,具体涉及一种基于叉指电极的高分子溶液分散性测量方法,包括如下步骤:(1)设置单个叉指电极的波长数目、探测深度以及叉指电极阵列的大小;(2)测量以待测高分子上层溶液和底层溶液为介质的电容,以此选择叉指电极电容模型;(3)将叉指电极阵列紧贴在待测容器的内壁;(4)取待测高分子溶液置于待测容器中;(5)将叉指电极阵列由导线引出,与电容测量设备相连,实时获取高分子溶液不同探测深度处等效电容Ceq,ijk;(6)根据获得的叉指电极电容模型和等效电容Ceq,ijk,计算高分子溶液不同采样点处的等效介电常数εeq,ijk和其偏差值S,S值越小表示待测高分子溶液的分散性越好,溶液越稳定。 | ||
搜索关键词: | 高分子溶液 叉指电极 分散性 叉指电极阵列 测量 待测容器 等效电容 电容模型 探测 等效介电常数 电容测量设备 底层溶液 实时获取 采样点 波长 电容 内壁 紧贴 上层 | ||
【主权项】:
1.一种基于叉指电极的高分子溶液分散性测量方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)根据所需采样点的个数,设置单个叉指电极的波长数目、探测深度和叉指电极阵列的大小;其中,所述叉指电极阵列由m×n个多波长叉指电极结构以矩阵形式排列,探测深度由叉指电极的波长决定,波长数目等于深度方向上的样本点个数,记为p;(2)分别以待测高分子溶液的上层溶液和底层溶液为介质,测量所述待测高分子溶液的上层溶液和底层溶液的电容,并以此选择叉指电极电容模型;其中,所述的高分子溶液的溶剂和溶质均为介电质;(3)将步骤(1)所述叉指电极阵列紧贴于容器内壁;其中,所述的容器包括封闭腔体,所述容器内壁为容器底部或侧面;(4)将待测高分子溶液置于所述容器内,其液面高度不小于所述叉指电极阵列的最大探测深度;(5)将所述叉指电极阵列由导线引出,与电容测量设备相连,实时获得高分子溶液不同探测深度处的等效电容Ceq,ijk;其中,所述的等效电容Ceq,ijk中下标i和j指代所述叉指电极阵列中第i行、第j列处的叉指电极,下标k指代深度方向的样本点位置,且i≤m,j≤n,k≤p,i、j、k均为整数;(6)根据步骤(2)获得的叉指电极电容模型和步骤(5)获得的等效电容信号Ceq,ijk,计算高分子溶液不同采样点处等效介电常数εeq,ijk和其标准偏差S,并用标准偏差S来表示所述待测高分子溶液的分散性;其中μ表示等效介电常数εeq,ijk的算术平均值。
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