[发明专利]一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法有效

专利信息
申请号: 201810146750.8 申请日: 2018-02-12
公开(公告)号: CN108494400B 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 陈卓俊;董业民;单毅 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H03L7/26 分类号: H03L7/26;G06F30/367
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪;杨希
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法,其包括:步骤S1,通过电路仿真或示波器测试,获得锁相环在被辐照前的输出波形;步骤S2,对所述锁相环进行单粒子效应仿真或实验,捕获所述锁相环在被辐照后的输出波形;步骤S3,计算获得所述锁相环在被辐照前的相位偏移和所述锁相环在被辐照后的相位偏移;步骤S4,累加获得所述锁相环在被辐照前的累积相位偏移和所述锁相环在被辐照后的累积相位偏移;步骤S5,计算获得累积相位抖动;步骤S6,将所述累积相位抖动等效为一个阶跃响应,利用所述阶跃响应的稳定值量化评估锁相环电路的单粒子敏感性。本发明通过提出累计相位抖动的指标,实现了锁相环电路单粒子敏感性的全面量化评估。
搜索关键词: 一种 锁相环 电路 粒子 敏感性 量化 评估 方法
【主权项】:
1.一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:步骤S1,通过电路仿真或示波器测试,获得锁相环在被辐照前的输出波形;步骤S2,对所述锁相环进行单粒子效应仿真或实验,捕获所述锁相环在被辐照后其锁定检测信号跳变前后时间段[tl‑td,tl+td]内的输出波形,其中,tl表示锁定检测信号发生跳变的时刻,td表示延迟时间;步骤S3,根据所述步骤S1中获得的输出波形,计算获得所述锁相环在被辐照前的相位偏移根据所述步骤S2中获得的输出波形,计算获得所述锁相环在被辐照后的相位偏移步骤S4,将所述锁相环在被辐照前的相位偏移进行时域累加,获得所述锁相环在被辐照前的累积相位偏移Jdisp,pre(t);将所述锁相环在被辐照后的相位偏移进行时域累加,获得所述锁相环在被辐照后的累积相位偏移Jdisp,post(t);步骤S5,将所述锁相环在被辐照后的累积相位偏移Jdisp,post(t)减去所述锁相环在被辐照前的累积相位偏移Jdisp,pre(t),以获得累积相位抖动Jaccp(t);步骤S6,将所述累积相位抖动Jaccp(t)等效为一个阶跃响应,利用所述阶跃响应的稳定值量化评估锁相环电路的单粒子敏感性。
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