[发明专利]非易失性存储器设备和包括其的存储系统在审

专利信息
申请号: 201810151093.6 申请日: 2018-02-13
公开(公告)号: CN108628757A 公开(公告)日: 2018-10-09
发明(设计)人: 李浩俊;任琫淳;朴相元 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F12/02 分类号: G06F12/02;G11C29/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王洵
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 非易失性存储器设备包括存储单元阵列和坏块重映射电路。存储单元阵列包括彼此配对的第一片和第二片。第一片包括多个第一存储块。第二片包括多个第二存储块。多个第一存储块中的第一选择存储块和多个第二存储块中的第二选择存储块基于第一地址来访问。当确定第一选择存储块有缺陷时,坏块重映射电路基于第一地址产生第一重映射地址。多个第一存储块中的第一重映射存储块和第二选择存储块基于第一重映射地址来访问。
搜索关键词: 重映射 存储 选择存储 非易失性存储器 存储单元阵列 坏块 电路 存储系统 地址产生 配对 访问
【主权项】:
1.一种非易失性存储器设备,包括:存储单元阵列,包括彼此配对的第一片和第二片,所述第一片包括多个第一存储块,所述第二片包括多个第二存储块,所述多个第一存储块中的第一选择存储块和所述多个第二存储块中的第二选择存储块基于第一地址来访问;以及坏块重映射电路,被配置为当确定所述第一选择存储块有缺陷时,基于所述第一地址产生第一重映射地址,其中所述多个第一存储块中的第一重映射存储块和所述第二选择存储块基于所述第一重映射地址来访问。
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