[发明专利]一种片状粉末断面样品的制备方法有效

专利信息
申请号: 201810153747.9 申请日: 2018-02-22
公开(公告)号: CN110186738B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 蒋蓉蓉;姚懿容;李明;卢焕明;李勇 申请(专利权)人: 宁波新材料测试评价中心有限公司
主分类号: G01N1/32 分类号: G01N1/32;G01N1/36
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 赵青朵
地址: 315000 浙江省宁波*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种片状粉末的断面样品的制备方法,包括:将导电胶液滴加在基片表面;将片状粉末分散在导电胶液中;将导电胶液进行干燥,得到第一胶块;将基片垂直竖立于平整的平台上,将第一胶块设置于基片底部;将导电胶液滴加在第一胶块上,待导电胶液与第一胶块融合后进行干燥,得到第二胶块;采用离子抛光对第二胶块的下表面进行抛光,得到片状粉末的断面样品。本发明提供的方法制备得到的断面样品中大部分二维片状粉末都能够垂直于离子束切割的方向,在后期的观察中有大量的符合要求的可观察区域;另外本发明采用导电胶液进行制样,样品具有较好的导电性,有利于后期的高倍观察。
搜索关键词: 一种 片状 粉末 断面 样品 制备 方法
【主权项】:
1.一种片状粉末断面样品的制备方法,包括:将导电胶液滴加在基片表面;将片状粉末分散在导电胶液中;将导电胶液进行干燥,得到第一胶块;将基片垂直竖立于平整的平台上,将第一胶块设置于基片底部;将导电胶液滴加在第一胶块上,待导电胶液与第一胶块融合后进行干燥,得到第二胶块;采用离子抛光对第二胶块的下表面进行抛光,得到片状粉末的断面样品。
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