[发明专利]用于鉴定分子种类的元素组成的方法

摘要

提供了鉴定样品中所含和/或通过至少一种电离方法从样品中产生的至少一个分子种类的至少一种最可能元素组成的方法。所述方法包括测量所述样品的质谱且可以包括将所述实测质谱换算为中性质谱。所述方法进一步包括针对所关注峰确定具有预期峰的候选分子种类的集合，所述预期峰的峰位置处于对应的实测质谱或中性质谱的峰位置容许范围内。鉴定每个候选种类的鉴定质谱且测定所述鉴定质谱中的所有峰的峰位置范围。通过比较所述鉴定谱与所述实测或中性质谱来测定候选种类的两个子分数且利用所述子分数计算出最终分数。测定所计算最终分数达到最高值的的所述候选种类的元素组成。

主权项

1.一种鉴定样品中所含和/或通过至少一种电离方法从样品中产生分子M的至少一个种类的一种或多种最可能元素组成的方法，包含以下步骤：(i)使用质谱仪测量所述样品的质谱Imeas(p)，或使用质谱仪测量所述样品的质谱Imeas(p)且将所述实测质谱Imeas(p)换算为中性质谱Ineut(p)；(ii)针对所述实测质谱Imeas(p)或中性质谱Ineut(p)中的所关注峰Cint，从分子种类Minv的集合Sinv中确定候选分子种类Mcand的集合Scand，所述候选分子种类Mcand在对应于所述实测质谱Imeas(p)或所述中性质谱Ineut(p)的质谱中具有预期峰Cex,inv，其峰位置pex,inv处于指配给对应的所述实测质谱Imeas(p)或中性质谱Ineut(p)中的所述所关注峰Cint的峰位置容许范围Δptol内；(iii)针对所述候选分子种类Mcand集合Scand中的每个候选种类Mcand，测定对应于所述实测质谱Imeas(p)或所述中性质谱Ineut(p)的鉴定质谱Iid,M_cand(p)且测定峰位置范围Δp，所述峰位置范围Δp包含与所述候选分子种类Mcand集合Scand中的所有候选种类Mcand的所述实测质谱Imeas(p)或所述中性质谱Ineut(p)对应的所述鉴定质谱Iid,M_cand(p)的所有峰Cid,M_cand,i的峰位置pid,M_cand,i；(iv)利用测定每个候选种类Mcand的第一子分数s1,M_cand的第一方法，且利用测定每个候选种类Mcand的第二子分数s2,M_cand的第二方法，在所测定的所述峰位置范围Δp内对所述候选分子种类Mcand集合Scand中的所述候选种类Mcand的所述实测质谱Imeas(p)或所述中性质谱Ineut(p)与对应于所述实测质谱Imeas(p)或所述中性质谱Ineut(p)的每个鉴定质谱Iid,M_cand(p)进行比较，其中所述第一子分数s1,M_cand为所述候选种类Mcand的所述鉴定质谱Iid,M_cand(p)中的在所述实测质谱Imeas(p)或中性质谱Ineut(p)未得到鉴定的所有峰Cid,M_cand,i定址，且其中所述第二子分数s2,M_cand为所述实测质谱Imeas(p)中的所有峰Cmeas,i或所述中性质谱Ineut(p)中的所有峰Cneut,I定址，所述峰Cmeas,i和Cneut,i在所述候选种类Mcand的所述鉴定质谱Iid,M_cand(p)中未得到鉴定；且依据所述子分数si,M_cand计算所述候选分子种类Mcand集合Scand中的每个候选种类Mcand的最终分数fsM_cand或依据所述子分数si,M_cand计算所述候选分子种类Mcand集合Scand中的每个候选种类Mcand的最终分数fsM_cand，所述第一方法的所述子分数s1,M_cand和所述第二方法的所述子分数s2,M_cand中的一个或两个高于所指配的阈值si,th,fs以便计算最终分数fsM_cand；i；(v)测定具有最高值的一个或多个所计算最终分数fs高,k；(vi)测定所述候选分子种类Mcand集合Scand中的所述候选种类Mcand,高_k的元素组成，所述候选种类Mcand,高_k具有所述一个或多个有最高值的所计算最终分数fs高,k。