[发明专利]一种离子注入设备及其离子注入方法有效

专利信息
申请号: 201810154566.8 申请日: 2018-02-23
公开(公告)号: CN108364862B 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 吕雪峰;周炟;罗康;莫再隆 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265;H01J37/317
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 郭润湘
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种离子注入设备及其离子注入方法,对离子注入设备进行改造,在工艺腔与分析磁场之间增加空置挡板,空置挡板在离子注入以外的时段隔离工艺腔与分析磁场,可以减少工艺腔中的剥落物,降低特性亮暗点发生率,实现高品质显示画面。且可有效缓解工艺腔被污染的速度,提高其自清洁能力,从而延长工艺腔开腔清洁的周期。并且,在工程师打开工艺腔进行清洁之前,关闭空置挡板,使分析磁场和工艺腔分开,分析磁场的真空环境得以保留,在后续只需要对工艺腔恢复真空即可,可减少设备停机时间,可以从12小时减少到6小时。
搜索关键词: 一种 离子 注入 设备 及其 方法
【主权项】:
1.一种离子注入设备,其特征在于,包括:传送腔,与所述传送腔通过阀门连接的工艺腔,通过束流腔与所述工艺腔连接的分析磁场,以及与所述分析磁场连接的离子源;其中,在所述工艺腔与所述分析磁场之间具有空置挡板,所述空置挡板用于在离子注入以外的时段,隔离所述工艺腔与所述分析磁场。
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