[发明专利]一种变间隙法布里-珀罗干涉仪反射率确定方法在审

专利信息
申请号: 201810155553.2 申请日: 2018-02-23
公开(公告)号: CN108363202A 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 张芳;高教波;赵宇杰;张茗璇;高飞;郑雅卫;张磊;孟合民 申请(专利权)人: 西安应用光学研究所
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 陈星
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种变间隙法布里‑珀罗(F‑P)干涉仪反射率确定方法,属于光谱成像领域。本发明综合分析了变间隙法布里‑珀罗(F‑P)干涉仪干涉腔反射率对变间隙法布里‑珀罗(F‑P)干涉光谱成像系统最终获取的单色光干涉条纹正弦性和调制度的影响。通过使用本发明的技术方案,对干涉条纹的正弦性和调制度进行折中处理,不仅可以确定变间隙法布里‑珀罗(F‑P)干涉仪干涉腔最佳反射率值,还可以避免因其中一个性能参数过差,导致变间隙法布里‑珀罗(F‑P)干涉光谱成像系统无法正常工作。
搜索关键词: 间隙法 干涉仪 干涉光谱成像 反射率确定 干涉条纹 调制度 反射率 干涉腔 正弦性 光谱成像 性能参数 单色光 综合分析
【主权项】:
1.一种变间隙法布里‑珀罗干涉仪反射率确定方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:建立变间隙法布里‑珀罗干涉光谱成像系统获取的单色光干涉条纹正弦性与变间隙法布里‑珀罗干涉仪干涉腔反射率之间关系的数学模型;步骤2:建立变间隙法布里‑珀罗干涉光谱成像系统获取的单色光干涉条纹调制度与变间隙法布里‑珀罗干涉仪干涉腔反射率之间关系的数学模型;步骤3:根据步骤1和步骤2获得数学模型,以单色光干涉条纹正弦性与调制度的乘积为目标函数,当目标函数值最大时,对应的变间隙法布里‑珀罗干涉仪干涉腔反射率值为最佳反射率值。
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