[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201810160548.0 申请日: 2018-02-27
公开(公告)号: CN109524466B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 加藤浩朗;小林研也 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘英华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施方式的半导体装置具备漏极层、漂移层、基底区域、源极区域、沟槽、基底接触件区域、栅极区域及场板电极。漏极层在第1方向及第2方向上扩展。漂移层形成于上述漏极层的表面。基底区域形成于上述漂移层的表面。源极区域形成于上述基底区域的表面。沟槽形成为阵列状,从上述源极区域的表面贯通上述基底区域并到达上述漂移层。基底接触件区域沿着上述第2方向而形成,与上述沟槽不邻接地从上述源极区域的表面连接到上述基底区域。栅极区域在上述沟槽的内壁隔着绝缘膜而形成。场板电极在上述栅极区域的内侧隔着绝缘膜而形成,并形成为比上述栅极区域长。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,具备:第1导电型的漏极层,在第1方向及与第1方向交叉的第2方向上扩展;第1导电型的漂移层,形成于上述漏极层的表面,该表面是上述漏极层的与上述第1方向及上述第2方向交叉的第3方向上的一方的面;第2导电型的基极区域,形成于上述漂移层的表面;第1导电型的源极区域,形成于上述基极区域的表面;多个沟槽,该多个沟槽为在上述第1方向及上述第2方向上形成为阵列状的沟槽,且从上述源极区域的表面沿着上述第3方向贯通上述基极区域并到达上述漂移层;第2导电型的基极接触件区域,是在沿着上述第1方向的沟槽彼此之间以在上述第2方向上延伸的方式形成的基极接触件区域,且形成为在上述源极区域内与上述沟槽分离,并与上述基极区域电连接;多个栅极区域,沿着各个上述沟槽的内壁隔着绝缘膜形成于上述沟槽内;多个场板电极,在各个上述栅极区域隔着绝缘膜而相邻并在上述沟槽内沿着上述第3方向形成,在上述第3方向上形成为比上述栅极区域长;第1源极接触件,在上述基极接触件区域及上述源极区域的上表面中沿着上述第1方向的沟槽彼此之间,以沿着上述第2方向的方式形成,与上述基极接触件区域及上述源极区域电连接;第2源极接触件,在上述场板电极的上表面,与上述场板电极电连接;以及栅极接触件,在上述栅极区域的上表面与上述栅极区域电连接。
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