[发明专利]一种晶圆测试参数设置方法在审

专利信息
申请号: 201810161473.8 申请日: 2018-02-27
公开(公告)号: CN108400100A 公开(公告)日: 2018-08-14
发明(设计)人: 邓维维;王华;凌俭波;周官宏;季海英 申请(专利权)人: 上海华岭集成电路技术股份有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根;徐颖
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种晶圆测试参数设置方法,不需要人工设置探针台配置文件。同一产品,得到客户提供的批号、片号、相应目标坐标信息和管芯参数要求后,探针台取得当前机台内的晶圆相应批号、片号和坐标信息,测试机按照输入信息参照目标坐标进行相应管芯的自动测试扫描,并对失效管芯进行周围位置管芯补测,自动测试的同时对失效进行验证和数据补充。保证测试数据的正确性,测试灵活并且适应各种客户要求,避免人工设定造成的误操作,有效地提高测试效率和质量。
搜索关键词: 管芯 测试参数设置 目标坐标 自动测试 探针台 种晶 机台 测试数据 测试效率 管芯参数 客户要求 配置文件 输入信息 数据补充 周围位置 坐标信息 测试机 误操作 有效地 晶圆 扫描 验证 测试 灵活 客户 保证
【主权项】:
1.一种晶圆测试参数设置方法,其特征在于,具体包括如下步骤:1)同一产品,得到客户提供的批号、片号、相应目标坐标信息和管芯参数要求后,选定一片先进行预测,探针台取得当前机台内的晶圆相应批号、片号、坐标信息,按照输入信息参照目标坐标进行相应管芯的测试扫描;2)测试扫描时,每个目标坐标的管芯扫描后,将数据与管芯参数要求进行对比,如数据在管芯参数要求中,进行下一个目标坐标的扫描;如数据不在管芯参数要求中,此目标坐标管芯标识为不合格,为了避免是因为个别样品的单独失效或测试机造成,对不合格目标管芯周围坐标的管芯进行补测,如补测位置管芯数据均在管芯参数要求中,则记录补测位置数据,便于给客户参考;如补测位置管芯数据有不合格的,则对目标坐标管芯其余临近位置进行补测,再次补测全合格,则数据保留,进行下一目标坐标管芯测试,如再次补测还没有全合格,进行测试故障确认及排除;3)所有目标坐标管芯测试后,进入第二片测试,重复步骤2),直到设定的抽样测试全部完成;4)抽样测试达到测试合格率,按客户要求自动生成测试文件,如合格率不达标,则将测试数据送客户确认,客户根据数据调整目标坐标信息后,给出最终测试文件。
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