[发明专利]位置传感器和位置感测的方法有效
| 申请号： | 201810164197.0 | 申请日： | 2018-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN108507594B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | S·休伯林登贝格尔;J·毕尔巴鄂德蒙迪扎巴尔 | 申请（专利权）人： | 迈来芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/14 | 分类号： | G01D5/14 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;姬利永 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明题为“位置传感器和位置感测的方法”。本发明公开了一种确定传感器设备相对于外磁场的位置的方法，所述方法包括：向导体提供电流以生成将与外磁场叠加的内磁场，测量组合磁场的场分量，基于施加的电流和/或所测量的残余磁场来计算位置。还描述了一种用于执行所述方法的位置传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 传感器 方法 | ||
【主权项】：
1.一种确定传感器设备相对于外磁场(Bext)的位置的方法，所述方法包括步骤：‑向第一电导体施加或调节第一电流来生成将与所述外磁场叠加的第一内磁场以便形成第一总磁场；‑使用第一磁性感测元件在第一位置处测量所述第一总磁场的分量；‑向不同于所述第一电导体的第二电导体施加或调节第二电流来生成将与所述外磁场叠加的第二内磁场以便形成第二总磁场；‑使用不同于所述第一磁性感测元件的第二磁性感测元件在第二位置处测量所述第二总磁场的分量；‑根据至少所述第一电流和所述第二电流或根据所述第一电流和所述第二电流以及考虑在所述第一位置处所测量的所述第一总磁场的分量和/或在所述第二位置处所测量的所述第二总磁场的分量来计算所述传感器设备的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于迈来芯电子科技有限公司，未经迈来芯电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810164197.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
