[发明专利]一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素的测定方法有效

专利信息
申请号: 201810169757.1 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN108445072B 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 尚云涛;王义东;陈奕霖;曹佳蕊;杨曦;李勇;李军 申请(专利权)人: 天津师范大学
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 天津市杰盈专利代理有限公司 12207 代理人: 朱红星
地址: 300387 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素测定方法,具体步骤为将植物、土壤或沉积物等样品经烘干,研磨过筛网,用锡杯包裹,采用元素分析仪—稳定同位素质谱联用仪检测待测样品。本发明利用He对样品气的分流作用,抑制高碳含量样品中过高的二氧化碳信号,从而实现了对高碳氮比中碳氮同位素比值的快速、精确检测,结果准确,重现性好,效率高。
搜索关键词: 一种 高碳氮 样品 中碳氮 稳定 同位素 测定 方法
【主权项】:
1.一种高碳氮比样品中碳氮稳定同位素的测定方法,其特征在于按如下的步骤进行:(1)将植物、土壤或沉积物样品经80℃,24h烘干,研磨过120目筛网;(2)用锡杯包裹待测样品,采用元素分析‑稳定同位素质谱联用仪检测待测样品;元素分析仪的条件为:载气He压强50kPa,进样器He吹扫流量80ml/min,氧气压强15 kPa,氧化炉1020℃,还原炉650℃,柱温箱115℃,氧化管催化剂为镀银氧化钴25克和氯化铬25克,还原管内为颗粒状纯铜,φ 0.7mm50克;(3)δC13检测中稳定同位素质谱仪分析条件为:离子源真空2x10‑6 mBar,离子源电压5KV,载气He压强15psi,分流气He压强27psi;(4)δN15检测中稳定同位素质谱仪分析条件为:离子源真空2x10‑6 mBar,离子源电压5KV,载气He压强15psi,分流气He压强45psi;(5) 在上述条件下对标准品和样品同位素值进行分析,以标准品信号值为横坐标,以标准品标定同位素值为纵坐标建立标准曲线,将样品信号值带入标准曲线,得出样品同位素值;重复检测5次,统计实验结果。
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