[发明专利]缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片有效

专利信息
申请号: 201810169825.4 申请日: 2018-02-28
公开(公告)号: CN108535259B 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 井村圭太;越野哲史 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/89
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘文海
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供适于表示缺陷的位置的缺陷标注方法及缺陷标注装置、卷料的制造方法及卷料、以及片的制造方法及片。缺陷标注方法进行被检查物的缺陷检查,并根据缺陷检查的结果而在被检查物的缺陷位置实施标注,以缺陷(D)位于在被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案(PT1)与第二印刷图案(PT2)之间的方式在被检查物的表面印刷第一印刷图案(PT1)以及第二印刷图案(PT2),由此表示缺陷(D)的位置。
搜索关键词: 缺陷 标注 方法 装置 制造
【主权项】:
1.一种缺陷标注方法,在被检查物的缺陷位置实施标注,该缺陷标注方法的特征在于,以缺陷位于在所述被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案与第二印刷图案之间的方式在所述被检查物的表面印刷所述第一印刷图案以及所述第二印刷图案,由此表示所述缺陷的位置。
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