[发明专利]OTA测试暗室及测试系统有效
| 申请号： | 201810172506.9 | 申请日： | 2018-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN108134636B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 张妍;杨晓;魏耀德;孔庆辉 | 申请（专利权）人： | 上海鸿洛通信电子有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B17/391 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 张海洋 |
| 地址： | 201800 上海市嘉定区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及测试技术领域，具体涉及一种OTA测试暗室及暗室系统，暗室系统包括控制终端、频谱分析仪以及基站仿真器，且频谱分析仪和基站仿真器分别与控制终端电连接，OTA测试暗室包括暗室本体、放置设备、检测天线、通信天线、选择开关以及耦合天线。放置设备设置于暗室本体内以用于放置待测终端，耦合天线的一端设置于放置设备并靠近待测终端、另一端与选择开关的第一选通端口电连接，通信天线一端设置于暗室本体内、另一端与选择开关的第二选通端口电连接，选择开关的输入端口与基站仿真器电连接，检测天线一端设置于暗室本体内、另一端与频谱分析仪和基站仿真器分别电连接。通过上述设置以便于基站仿真器与OTA测试暗室中的待测终端建立连接。 | ||
| 搜索关键词： | ota 测试 暗室 系统 | ||
【主权项】：
一种OTA测试暗室，应用于包括控制终端、频谱分析仪以及基站仿真器的暗室系统，其特征在于，所述频谱分析仪和基站仿真器分别与所述控制终端电连接，所述OTA测试暗室包括暗室本体、放置设备、检测天线、通信天线、选择开关以及耦合天线；所述放置设备设置于所述暗室本体内以用于放置待测终端，所述耦合天线的一端设置于所述放置设备并靠近所述待测终端、另一端与所述选择开关的第一选通端口电连接，所述通信天线一端设置于所述暗室本体内、另一端与所述选择开关的第二选通端口电连接，且所述耦合天线到所述待测终端的距离小于所述通信天线到所述待测终端之间的距离，所述选择开关的输入端口与所述基站仿真器电连接，所述检测天线一端设置于暗室本体内、另一端与所述频谱分析仪和基站仿真器分别电连接。
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