[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201810172985.4 申请日: 2018-03-02
公开(公告)号: CN109148573A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 小山将央;池田健太郎;高尾和人 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/335;H01L29/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 孙蕾
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供半导体装置,具备:第1半导体层;第2半导体层;第3半导体层,漏极电极,源极电极,导通电极,处于第2半导体层的与有第3半导体层的一侧相反侧,具有贯通第2半导体层及所述第3半导体层的第2凸部分,其前端位于第1半导体层的内部;栅极电极,处于第2半导体层的与有第3半导体层的一侧相反侧,处于源极电极与导通电极间;第1绝缘层,处于栅极电极与第2半导体层间,第1半导体层包括:第1区域,为第1导电类型;第2区域,处于第1区域与漏极电极间且为第2导电类型;第3区域,处于导通电极的第2凸部与第1区域间且为第2导电类型;第4区域,处于第3半导体层与第1区域之间,处于源极电极与导通电极间且为第1导电类型。
搜索关键词: 半导体层 导电类型 导通电极 源极电极 半导体装置 漏极电极 栅极电极 相反侧 绝缘层 凸部 贯通
【主权项】:
1.一种半导体装置,具备:第1半导体层,是碳化硅;第2半导体层,是氮化物半导体;第3半导体层,与所述第2半导体层相接,处于所述第1半导体层与所述第2半导体层之间,且是氮化物半导体;漏极电极,处于所述第1半导体层的与存在所述第3半导体层的一侧相反的一侧;源极电极,处于所述第2半导体层的与存在所述第3半导体层的一侧相反的一侧,并且具有第1凸部,所述第1凸部贯通所述第2半导体层以及所述第3半导体层的各个半导体层,所述第1凸部的前端位于所述第1半导体层的内部;导通电极,处于所述第2半导体层的与存在所述第3半导体层的一侧相反的一侧,并且具有第2凸部,所述第2凸部贯通所述第2半导体层以及所述第3半导体层的各个半导体层,所述第2凸部的前端位于所述第1半导体层的内部;栅极电极,处于所述第2半导体层的与存在所述第3半导体层的一侧相反的一侧,并且处于所述源极电极与所述导通电极之间;以及第1绝缘层,处于所述栅极电极与所述第2半导体层之间,所述第1半导体层包括:第1区域,是第1导电类型;第2区域,处于所述第1区域与所述漏极电极之间,且是第1导电类型;第3区域,处于所述导通电极的所述第2凸部与所述第1区域之间,且是第1导电类型;以及第4区域,处于所述第3半导体层与所述第1区域之间,并且处于所述源极电极与所述导通电极之间,且是第2导电类型。
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