[发明专利]一种利用相场理论进行二维与三维晶体生长模拟的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810173416.1 申请日: 2018-03-02
公开(公告)号: CN108416838B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 任博;黄家辉;胡事民 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00
代理公司: 天津耀达律师事务所 12223 代理人: 张耀
地址: 300071*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种利用相场理论进行二维与三维晶体生长模拟的方法及系统,该生长模拟方法利用本发明提供的系统,采用相场理论,通过引入分子方向场的计算,能够高效地生成具有任意对称性与不同程度对称破缺外观的晶体,并能实现在任意弯曲表面与三维情形下的晶体生长。本方法同时提供了灵活的对晶体生长的艺术控制手段。本发明具有较强的实用性,能够为结晶的生长模拟提供多样化而高效的解决方案。
搜索关键词: 一种 利用 理论 进行 二维 三维 晶体生长 模拟 方法 系统
【主权项】:
1.一种利用相场理论进行二维与三维晶体生长模拟的方法,其特征在于:第1:随机初始化模拟场景内的分子方向场,并设置固体生长初始点及其分子方向;第2:利用一种基于相场理论的晶体生长模型,计算固液两相在相变过程中导致的相场变化,从而获得相变的模拟;第3:利用一种基于相场理论的晶体生长模型,计算在上述相变过程中分子方向场的变化,从而获得具有任意对称性与对称破缺特性的晶体形状;第4:在第2步中,选择性进行艺术控制,包括人为设计分子方向场的当前状态与初值等手段;第5:利用一种基于相场理论的晶体生长模型,计算在上述过程中的温度场变化;第6:从最终获得的相场,恢复出可供渲染的二维与三维晶体的三角网格模型。
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