[发明专利]检测器和具有该检测器的发射成像设备在审
| 申请号： | 201810174669.0 | 申请日： | 2018-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN108562927A | 公开（公告）日： | 2018-09-21 |
| 发明（设计）人： | 黄秋;谢思维;谢杨泽;翁凤花;苏志宏;彭旗宇 | 申请（专利权）人： | 东莞南方医大松山湖科技园有限公司;广东顺德南方医大科技园有限公司;广东影诺数字医学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202 |
| 代理公司： | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人： | 徐丁峰;付伟佳 |
| 地址： | 523808 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种检测器及具有该检测器的发射成像设备。检测器包括多层闪烁晶体以及多排光传感器阵列。多层闪烁晶体上下堆叠在一起构成多层连续晶体阵列，多层连续晶体阵列具有六个面，且尺寸为mⅹnⅹAh,尺寸nⅹAh、mⅹAh对应的四个面为侧面，尺寸mⅹn对应的两个面分别为上底面、下底面，m为闪烁晶体的长，n为闪烁晶体的宽，h为闪烁晶体的高，A为闪烁晶体的层数；每排光传感器阵列包括多个光传感器，多排光传感器阵列耦合至多层连续晶体阵列的侧面，且，一排光传感器阵列耦合于多层闪烁晶体中的至少一层闪烁晶体的侧面上。本发明检测器具备高性能的时间测量潜力。 | ||
| 搜索关键词： | 闪烁晶体 检测器 多层 光传感器阵列 连续晶体 成像设备 耦合 侧面 多排 光传感器 上下堆叠 时间测量 发射 上底面 下底面 | ||
【主权项】：
1.一种用于发射成像设备的检测器，其特征在于，包括：多层闪烁晶体，所述多层闪烁晶体上下堆叠在一起构成多层连续晶体阵列，所述多层连续晶体阵列具有六个面，且尺寸为mⅹnⅹAh,尺寸nⅹAh、mⅹAh对应的四个面为侧面，尺寸mⅹn对应的两个面分别为上底面、下底面，m为所述闪烁晶体的长，n为所述闪烁晶体的宽，h为所述闪烁晶体的高，A为所述闪烁晶体的层数；以及多排光传感器阵列，每排所述光传感器阵列包括多个光传感器，所述多排光传感器阵列耦合至所述多层连续晶体阵列的所述侧面，且，一排所述光传感器阵列耦合于所述多层闪烁晶体中的至少一层闪烁晶体的侧面上。
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