[发明专利]一种用于光纤萨格纳克干涉仪相位调制的方法和装置有效
申请号: | 201810178777.5 | 申请日: | 2018-03-05 |
公开(公告)号: | CN110231024B | 公开(公告)日: | 2021-04-23 |
发明(设计)人: | 李卫;齐跃峰;李思佳 | 申请(专利权)人: | 李卫;齐跃峰 |
主分类号: | G01C19/72 | 分类号: | G01C19/72 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100036 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于光纤萨格纳克干涉仪相位调制的方法和装置,该方法包括:利用两个旋向相反且旋光角相同的法拉第旋光器件,分别旋转从光纤萨格纳克干涉仪光路中入射的两路偏振方向相同的线偏振光;在上述两个法拉第旋光器件中放置电光晶体器件;控制上述两个法拉第旋光器件的旋光角以及从外部入射其上偏振光的偏振方向,使其出射光的偏振方向分别旋向电光晶体由于电致使双折射而产生的两个电感应主轴方向;通过外加调制电压的变化来调制电光晶体的电光相位延迟,从而使得从不同端口通过相位调制器的线偏振光的相位差受到调制。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 光纤 萨格纳克 干涉仪 相位 调制 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于光纤萨格纳克干涉仪相位调制的方法,其特征在于,该方法包括:利用两个旋向相反且旋光角相同的法拉第旋光器件,分别旋转从光纤萨格纳克干涉仪光路中入射的两路偏振方向相同的线偏振光;在上述两个法拉第旋光器件中放置电光晶体器件;在电光晶体器件的电极上外加调制电压使得电光晶体发生电致双折射;电光晶体电感应主轴所在的平面与入射光的方向垂直;控制上述两个法拉第旋光器件的旋光角以及从外部入射其上偏振光的偏振方向,使其出射光的偏振方向分别旋向电光晶体由于电致使双折射而产生的两个电感应主轴方向;通过外加调制电压的变化来调制电光晶体的电光相位延迟,从而使得从不同端口通过相位调制器的线偏振光的相位差受到调制。
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