[发明专利]拉曼光谱中用贵金属淬灭荧光的方法在审
| 申请号： | 201810178868.9 | 申请日： | 2018-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN108760714A | 公开（公告）日： | 2018-11-06 |
| 发明（设计）人： | 梁庆优;杨贤锋;宋国胜;曾招余波;魏嫣莹 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 罗啸秋 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于分析检测技术领域，公开了一种拉曼光谱中用贵金属淬灭荧光的方法。所述方法为：使用离子溅射仪在待测样品表面喷涂贵金属薄膜，然后将喷涂面朝上置于拉曼光谱仪的反射光路中进行拉曼光谱检测。本发明的方法可以有效淬灭样品表面的荧光物质造成的干扰，得到高质量的谱图；对于基体的荧光也有一定的淬灭作用。本发明的方法简单有效，尤其对于表面有荧光物质的不能破坏的块状样品特别适用，具有重要的实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 淬灭 荧光 贵金属 拉曼光谱 荧光物质 分析检测技术 拉曼光谱检测 贵金属薄膜 拉曼光谱仪 离子溅射仪 表面喷涂 待测样品 反射光路 块状样品 样品表面 喷涂面 朝上 | ||
【主权项】：
1.一种拉曼光谱中用贵金属淬灭荧光的方法，其特征在于包括如下步骤：使用离子溅射仪在待测样品表面喷涂贵金属薄膜，然后将喷涂面朝上置于拉曼光谱仪的反射光路中进行拉曼光谱检测。
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