[发明专利]电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体有效
申请号: | 201810191011.0 | 申请日: | 2018-03-08 |
公开(公告)号: | CN108667461B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 羽田秀生;田中敦嗣 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | H03M1/38 | 分类号: | H03M1/38;H01L27/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 黄纶伟;于英慧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体,能够降低在逐次比较型的A/D转换电路中码移位对阿伦方差特性造成影响的可能性。电路装置(100)包含:码数据生成电路(110),其生成在时间上变化的码数据(CS);以及逐次比较型的A/D转换电路(120),其进行基于码数据(CS)的码移位,对输入信号(VIN)进行A/D转换。码数据生成电路(110)生成频率特性具有整形特性的误差数据(ERR),并将误差数据(ERR)转换为码数据(CS)。 | ||
搜索关键词: | 电路 装置 物理量 测定 电子设备 以及 移动 | ||
【主权项】:
1.一种电路装置,其特征在于,包含:码数据生成电路,其生成在时间上变化的码数据;以及逐次比较型的A/D转换电路,其进行基于所述码数据的码移位,对输入信号进行A/D转换,所述码数据生成电路生成频率特性具有整形特性的误差数据,并将所述误差数据转换为所述码数据。
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