[发明专利]电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体有效

专利信息
申请号: 201810191011.0 申请日: 2018-03-08
公开(公告)号: CN108667461B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 羽田秀生;田中敦嗣 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H03M1/38 分类号: H03M1/38;H01L27/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 黄纶伟;于英慧
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 电路装置、物理量测定装置、电子设备以及移动体,能够降低在逐次比较型的A/D转换电路中码移位对阿伦方差特性造成影响的可能性。电路装置(100)包含:码数据生成电路(110),其生成在时间上变化的码数据(CS);以及逐次比较型的A/D转换电路(120),其进行基于码数据(CS)的码移位,对输入信号(VIN)进行A/D转换。码数据生成电路(110)生成频率特性具有整形特性的误差数据(ERR),并将误差数据(ERR)转换为码数据(CS)。
搜索关键词: 电路 装置 物理量 测定 电子设备 以及 移动
【主权项】:
1.一种电路装置,其特征在于,包含:码数据生成电路,其生成在时间上变化的码数据;以及逐次比较型的A/D转换电路,其进行基于所述码数据的码移位,对输入信号进行A/D转换,所述码数据生成电路生成频率特性具有整形特性的误差数据,并将所述误差数据转换为所述码数据。
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