[发明专利]用于测试和测量仪器的并行触发模型在审
申请号: | 201810194332.6 | 申请日: | 2018-03-09 |
公开(公告)号: | CN108572290A | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | B.P.弗拉克尔顿;G.J.波莉 | 申请(专利权)人: | 基思利仪器有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 毕铮;申屠伟进 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供了用于测试和测量仪器的并行触发模型。一种用于执行多个操作的测试和测量仪器包括:从被测设备接收信号的端口;以及处理器。所述处理器被配置成,基于并行触发模型:执行与测试和测量仪器的第一功能性关联的第一过程;以及在来自被测设备的信号上执行第二过程,第二过程与测试和测量仪器的第二功能性关联。第二过程在第一过程的完成之前开始。 | ||
搜索关键词: | 测量仪器 测试 触发 并行 被测设备 处理器 关联 模型提供 配置 | ||
【主权项】:
1.一种测试和测量仪器,包括:从被测设备接收信号的端口;以及处理器,其被配置成,基于并行触发模型:执行第一过程以使所述测试和测量仪器的第一功能性被执行,以及执行第二过程以使所述测试和测量仪器的第二功能性在所述信号上执行,第二过程在第一过程的完成之前开始。
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