[发明专利]一种基于带约束稀疏表示的高光谱图像异常检测方法有效
| 申请号： | 201810194560.3 | 申请日： | 2018-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN108492283B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 林再平;凌强;安玮;盛卫东;李骏;曾瑶源 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/46 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 董惠文 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于图像处理领域，涉及一种基于带约束稀疏表示的高光谱图像异常检测方法，包括以下步骤：(S1)将高光谱图像线性规范化；(S2)对于每一个测试像元，根据双窗模型提取局部背景字典；(S3)根据局部背景字典，求解带约束稀疏表示模型，得到模型最优解一；(S4)根据模型最优解一，将所有异常原子从局部背景字典中删除，得到新的背景字典；(S5)根据新的背景字典，求解带约束稀疏表示模型，得到模型最优解二；(S6)根据模型最优解二，计算像元的检测值；(S7)遍历整个高光谱图像，对高光谱图像的每一个像元计算检测值，输出这些检测值构成的图像，即异常检测图像。本发明不需要背景统计信息和设置稀疏度，提高了重构精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 约束 稀疏 表示 光谱 图像 异常 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于带约束稀疏表示的高光谱图像异常检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(S1)将高光谱图像线性规范化；(S2)对于每一个测试像元，根据双窗模型提取局部背景字典；(S3)根据局部背景字典，求解带约束稀疏表示模型，得到模型最优解一；(S4)根据模型最优解一，将所有异常原子从局部背景字典中删除，得到新的背景字典；(S5)根据新的背景字典，求解带约束稀疏表示模型，得到模型最优解二；(S6)根据所述步骤(S5)中的模型最优解二，计算像元的检测值；(S7)遍历整个线性规范化后的高光谱图像，对高光谱图像的每一个像元计算检测值，输出这些检测值构成的图像，即异常检测图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科技大学，未经中国人民解放军国防科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810194560.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
