[发明专利]TCM老化检测装置及检测方法在审
申请号: | 201810207096.7 | 申请日: | 2018-03-14 |
公开(公告)号: | CN108227682A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 肖胜强 | 申请(专利权)人: | 深圳市奥德迈科技术有限公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02;G01R31/28;G01R31/00;G05B19/042 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种TCM老化检测装置,包括电源模块,待测模块的测试信息通过显示装置进行显示;其中,电源模块的电源信号经过控制模块处理后产生多个测试信号测试待测模块得到多个检测信号;多个检测信号经过CAN总线电路被获取后发送至控制模块被转换为显示信号,显示信号被传送至显示装置进行显示;控制模块包括多个单片机,待测模块包括多个待测TCM板。本发明还提供了一种应用于上述TCM老化检测装置的TCM老化检测方法,本发明的TCM检测装置和检测方法能全面使每个TCM板在每个工况下老化,记录存储不良信息,供工作人员查看返修,老化的整个过程大大减少对人的依赖,提高进行老化测试的效率。 | ||
搜索关键词: | 老化检测装置 待测模块 控制模块 电源模块 检测信号 显示信号 显示装置 老化 返修 不良信息 测试信号 测试信息 电源信号 记录存储 检测装置 老化测试 老化检测 单片机 检测 传送 发送 测试 转换 应用 | ||
【主权项】:
1.TCM老化检测装置,包括电源模块,待测模块的测试信息通过显示装置进行显示;其特征在于:所述电源模块的电源信号经过控制模块处理后产生多个测试信号测试所述待测模块得到多个检测信号;多个所述检测信号经过CAN总线电路被获取后发送至所述控制模块被转换为显示信号,所述显示信号被传送至所述显示装置进行显示;所述控制模块包括多个单片机,所述待测模块包括多个待测TCM板。
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