[发明专利]半导体装置有效
| 申请号： | 201810208732.8 | 申请日： | 2018-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN108572311B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 沈标 | 申请（专利权）人： | 艾普凌科有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3167 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;闫小龙 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体装置。半导体装置具备：测试图案产生部、将向电路供给测试图案的结果得到的电路的测试结果与期待值对照的测试结果对照部、分别对测试图案产生部和测试结果对照部进行控制的多个测试控制电路、以及被测验电路，并且，具有：第一测试模式，在所述模式下，通过多个测试控制电路之中的第一测试控制电路对测试图案产生部和测试结果对照部进行控制，从而对测试控制电路之中的第一测试控制电路以外的测试控制电路供给测试图案来进行测试；以及第二测试模式，在所述模式下，通过第一测试控制电路以外的测试控制电路对测试图案产生部和测试结果对照部进行控制，从而对第一测试控制电路供给测试图案来进行测试。能够简便地检查内建自测试控制电路自身。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，其中，具备：测试图案产生部，使测试图案产生；被测验电路，响应于被从所述测试图案产生部供给所述测试图案，输出与所述测试图案对应的测试结果；测试结果对照部，将所述测试结果与期待值对照；以及多个测试控制电路，分别对所述测试图案产生部和所述测试结果对照部进行控制，所述半导体装置具有：第一测试模式，在所述模式下，通过所述多个测试控制电路之中的第一测试控制电路对所述测试图案产生部和所述测试结果对照部进行控制，从而对所述测试控制电路之中的所述第一测试控制电路以外的测试控制电路供给所述测试图案来进行测试；以及第二测试模式，在所述模式下，通过与所述第一测试控制电路不同的第二测试控制电路对所述测试图案产生部和所述测试结果对照部进行控制，从而对所述第一测试控制电路供给所述测试图案来进行测试。
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