[发明专利]存储器的测试方法在审
| 申请号： | 201810209621.9 | 申请日： | 2018-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN108346451A | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 任栋梁;钱亮 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器的测试方法，所述存储器具有n个测试项目，所述测试方法包括对测试项目i进行N次判断，其中，1≤i≤n，1≤N≤100，且i和N均为整数；当i小于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则进入测试项目i+1的测试；当i等于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则判断所述存储器为合格品；当N小于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则进行对所述测试项目i的第N+1次判断；当N等于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则判断所述存储器为不合格品。这样的测试方法可以大幅度提高测试稳定性，大大降低误判率，从而提高产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试项目 存储器 判断结果 测试 合格品 测试稳定性 不合格品 产品良率 误判率 | ||
【主权项】：
1.一种存储器的测试方法，所述存储器具有n个测试项目，n为大于等于1的整数，其特征在于，所述测试方法包括对测试项目i进行N次判断，其中，1≤i≤n，1≤N≤100，且i和N均为整数；当i小于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则进入测试项目i+1的测试；当i等于n时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为合格，则判断所述存储器为合格品；当N小于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则进行对所述测试项目i的第N+1次判断；当N等于100时，若对所述测试项目i的第N次判断结果为失效，则判断所述存储器为不合格品。
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