[发明专利]测距仪系统及对其校准并确定到外部对象的距离的方法有效
| 申请号： | 201810210330.1 | 申请日： | 2018-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN108732578B | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 查尔斯·朱 | 申请（专利权）人： | 查尔斯·朱 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 美国加州库比蒂*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了测距仪系统以及校准测距仪系统并确定所述测距仪系统与外部对象之间的距离的方法。本公开内容的实施方式使用“芯片上”硅光子发射器如在热载流子注入条件下偏置的MOSFET或硅LED来生成用于校准测距仪的光信号。来自硅LED的光信号可以由测距仪的参考路径和接收路径中的光电检测器检测以生成校准相位偏移，可以从测距仪的相位偏移测量值中减去该校准相位偏移以校正由于例如环境、工艺变化、老化等造成的部件不匹配引起的相位偏移测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测距仪 系统 校准 确定 外部 对象 距离 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测距仪系统，包括：激光器，其被配置成在测量模式下生成第一光束；硅发光二极管(LED)，其被配置成在校准模式下生成第二光束；第一光电检测器，其中，在所述测量模式下，所述第一光电检测器被配置成检测从所述测距仪系统中的透镜反射的所述第一光束的一部分；以及第二光电检测器，其中，在所述测量模式下，所述第二光电检测器被配置成检测从所述测距仪系统外部的对象反射的所述第一光束的一部分；其中，在所述校准模式下，所述第一光电检测器和所述第二光电检测器二者都被配置成检测来自所述硅LED的所述第二光束。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于查尔斯·朱，未经查尔斯·朱许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810210330.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种激光探测装置
- 下一篇：借助于干涉测量的高分辨率距离测量
