[发明专利]测试量子产率的方法有效
| 申请号： | 201810224054.4 | 申请日： | 2018-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN108801949B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 王允军;孙雅娟;李敬群 | 申请（专利权）人： | 苏州星烁纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
本发明涉及测试量子产率的方法，包括：提供折射率为n |
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| 搜索关键词： | 测试 量子 方法 | ||
【主权项】：
1.测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供折射率为ns的第一溶剂，将待测物质溶解在所述第一溶剂中形成待测液；得到所述待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对所述待测液进行测试，得到所述待测物质的发射峰积分面积Fs和将所述发射峰积分面积Fs二等分的等效波长λs；在所述波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，根据所述多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个所述激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值；得到将发射峰积分面积Fr二等分的等效波长λr，由所述多个C值和相应的等效波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由所述等效波长λs和所述灵敏度计算式得到对应于所述等效波长λs的灵敏度Cs；所述待测物质的量子产率QYs由下式得出：![]()
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