[发明专利]测试量子产率的方法有效
| 申请号： | 201810224055.9 | 申请日： | 2018-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN108562562B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 王允军;孙雅娟;李敬群 | 申请（专利权）人： | 苏州星烁纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明提供了一种测试量子产率的方法，包括：提供折射率n |
||
| 搜索关键词： | 测试 量子 方法 | ||
【主权项】：
1.测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供折射率为ns的第一溶剂，将待测物质溶解在所述第一溶剂中形成待测液，得到所述待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对所述待测液进行测试得到所述待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs；在所述波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，得到所述多种标准物质各自的发射峰波长λr，并且根据所述多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个所述激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值，由所述多个C值和相应的发射峰波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由所述发射峰波长λs和所述灵敏度计算式得到对应于所述发射峰波长λs的灵敏度Cs；所述待测物质的量子产率QYs由下式得出：![]()
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州星烁纳米科技有限公司，未经苏州星烁纳米科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810224055.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
