[发明专利]一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法及装置

摘要

本发明涉及硬盘可靠性测试领域，更具体的说是一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法及装置，包括三个部分：制定硬盘性能退化数据采集方案、制定应力施加方案和设计批量硬盘固定装置。本发明采用集群式的实时同步的数据采集方式，并能保证硬盘工作性能不受影响；基于头盘磨损退化机理，提出了振动诱导硬盘加速退化方法；通过对硬盘进行模态测试和加速退化摸底试验，分别确定了振动起止频率和幅值量级，获得了应力施加方案；本发明的堆叠式硬盘固定装置可满足批量硬盘试验需求，并能确保受试硬盘所受激励相同。因此本发明能实现批量硬盘较快退化，可显著地减少批量硬盘加速寿命时间，降低试验成本、缩短研发周期，因而有着较大的推广价值。

主权项

1.一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法，其特征在于，过程如下：对若干个硬盘进行模态测试，统计所有硬盘的共振频率，通过所有共振频率确定批量加速退化试验的振动扫频范围；采用振动对若干硬盘进行加速退化摸底试验，统计所有硬盘加速退化所对应的振动幅值，通过所有振动幅值确定批量加速退化试验的振动幅值；在振动扫频范围和振动幅值条件下，对多个硬盘同时进行振动，振动过程中，集群式的实时同步采集和记录所有硬盘的S.M.A.R.T.参数数据；当某一硬盘的S.M.A.R.T.参数数据中的缺陷生长列表值达到规定的阈值时，则判定该硬盘发生失效；当某一硬盘发生失效后，停止采集该硬盘的S.M.A.R.T.参数数据，直至所有硬盘发生失效。