[发明专利]一种提高荧光强度比技术测温精度的方法有效
| 申请号： | 201810241003.2 | 申请日： | 2018-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN108489632B | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 张治国;李磊朋;秦峰;赵华;郑仰东 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 贾泽纯 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，本发明涉及一种提高荧光强度比技术测温精度的方法。本发明的目的是为了解决目前常用的荧光强度比技术测温精度较低的问题，具体的内容包括：(1)选取稀土离子热耦合能级对；(2)利用分段拟合的方法对这两个荧光带的强度比值进行标定，再利用玻尔兹曼热统计分布理论对荧光强度比值和温度之间的关系进行拟合，每个温度区间均得到一个拟合函数；(3)根据适合的拟合函数计算待测温度值。本发明利用分段拟合的思想能够将测温精度提高至少一个数量级。本发明能够切实解决荧光强度比技术中传统的整体拟合方法测温精度较低的弊端，显著提高荧光强度比技术的测温精度，本发明应用于稀土荧光测温领域。 | ||
| 搜索关键词： | 测温 荧光 强度比 分段拟合 拟合函数 拟合 热耦合能级 统计分布 温度区间 稀土离子 稀土荧光 传统的 荧光带 再利用 标定 应用 | ||
【主权项】：
1.一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，其特征在于是按以下步骤进行：一、制备稀土离子掺杂的感温材料，得到测温样品；二、将测温的温度区间均匀分成n份，然后将测温样品放入冷热台，在每个温度区间内、激发光源下，对不同温度下稀土离子所产生的荧光带的强度进行积分，其中荧光带是由任意一对具有热耦合关系的能级到下能级辐射跃迁所产生的；然后对两个荧光带的积分强度进行比值，再利用玻尔兹曼热统计分布理论对荧光强度比值和温度之间的关系进行拟合，每个温度区间均得到一个拟合函数；其中n≥4；三、将测温样品放置于待测环境，计算在待测环境下步骤二中两个荧光带的积分强度比值，根据步骤二的拟合函数的取值范围，选择适合的拟合函数，然后将两个荧光带的积分强度比值代入该拟合函数，即可得到待测环境的温度。
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