[发明专利]光电阴极及X射线诊断系统在审

专利信息
申请号: 201810246577.9 申请日: 2018-03-23
公开(公告)号: CN108281337A 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 王瑜英;曹柱荣;高聪;徐习斌;高扬;王雪敏;王建军;景峰 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: H01J1/34 分类号: H01J1/34
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 王文红
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明实施例提供一种光电阴极及X射线诊断系统。光电阴极包括X射线多层反射膜及设置在X射线多层反射膜表面上的金。X射线多层反射膜作为光电阴极的基底,金为纳米结构。X射线多层反射膜用于将入射至X射线多层反射膜表面上的X射线进行反射。金用于在X射线入射至金的表面后产生光电子,以进行X射线的诊断。其中,入射至金的表面的X射线包括光源直接射出的X射线及X射线多层反射膜反射的X射线。所述光电阴极的光电子产额高,稳定性好且环境适应性强。
搜索关键词: 多层反射膜 光电阴极 入射 光电子 反射 环境适应性 纳米结构 基底 射出 光源 诊断
【主权项】:
1.一种光电阴极,其特征在于,所述光电阴极包括X射线多层反射膜及设置在所述X射线多层反射膜表面上的金,所述X射线多层反射膜作为所述光电阴极的基底,所述金为纳米结构;所述X射线多层反射膜用于将入射至所述X射线多层反射膜表面上的X射线进行反射;所述金用于在X射线入射至所述金的表面后产生光电子,以进行X射线的诊断,其中,入射至所述金的表面的X射线包括光源直接射出的X射线及所述X射线多层反射膜反射的X射线。
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