[发明专利]存储设备及其坏块指派方法有效
| 申请号： | 201810249317.7 | 申请日： | 2018-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN108694989B | 公开（公告）日： | 2023-08-11 |
| 发明（设计）人： | 李庚德;沈荣燮 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李敬文 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种存储设备包括非易失性存储器设备，该非易失性存储器设备在选定的存储单元的编程操作期间检测多个目标状态中的至少一个目标状态的状态通过循环的循环计数，并且基于检测到的状态通过循环的循环计数来生成指示编程操作是否成功的状态循环计数信息(SLCI)；以及存储控制器，其响应于检测到操作条件或外部命令，向非易失性存储器设备请求状态循环计数信息，并且基于来自非易失性存储器设备的状态循环计数信息，将包括选定的存储单元的存储块指派为坏块。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 及其 指派 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储设备，包括：非易失性存储器设备，被配置为：在选定的存储单元的编程操作期间，检测多个目标状态中的至少一个目标状态的状态通过循环的循环计数，并且基于检测到的状态通过循环的循环计数来生成指示编程操作是否成功的状态循环计数信息；以及存储控制器，被配置为响应于操作条件的检测或外部命令，向所述非易失性存储器设备请求所述状态循环计数信息，并且基于来自所述非易失性存储器设备的状态循环计数信息，将包括所述选定的存储单元的存储块指派为坏块。
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