[发明专利]一种利用EBSD测量钢中位错密度的方法有效
申请号: | 201810254056.8 | 申请日: | 2018-03-26 |
公开(公告)号: | CN108535295B | 公开(公告)日: | 2019-10-25 |
发明(设计)人: | 张正延;柴锋;罗小兵;杨才福;苏航;师仲然 | 申请(专利权)人: | 钢铁研究总院;中联先进钢铁材料技术有限责任公司 |
主分类号: | G01N23/203 | 分类号: | G01N23/203;G01N23/207;G01N23/2206 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 龚颐雯;姬长平 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种利用EBSD测量钢中位错密度的方法。该方法包括制备标准试样和若干个待测试样,将上述试样依次放入带有EBSD的扫描电镜中,扫描并记录扫描数据,处理所述扫描数据,确定标准试样的小角度界面的界面密度ρ标和待测试样的小角度界面的界面密度ρ,测定标准试样的位错密度d标,根据公式d标=k·ρ标计算常数k,再根据公式d=k·ρ计算待测试样的位错密度。相较于其他传统测量钢中位错密度的方法,此方法更为便捷、准确,还能直观的观测对比不同钢材间的位错密度。 | ||
搜索关键词: | 标准试样 待测试样 位错 中位 测量 传统测量 记录扫描 扫描电镜 扫描数据 放入 制备 钢材 扫描 观测 直观 | ||
【主权项】:
1.一种利用EBSD快速测量钢中位错密度的方法,其特征在于:(1)试样制备:制备标准试样和若干个待测试样;(2)试样EBSD扫描:将上述试样依次放入带有EBSD的扫描电镜中扫描,并记录扫描数据;(3)数据处理:处理所述扫描数据,确定标准试样的小角度界面的界面密度ρ标和待测试样的小角度界面的界面密度ρ,测定标准试样的位错密度d标,根据公式d标=k·ρ标计算常数k;(4)确定待测试样的位错密度:根据公式d=k·ρ计算待测试样的位错密度;所述步骤(3)中利用CHANNEL5软件对扫描数据进行降噪处理,去除误标数据,标注扫描区域中的小角度界面和大角度界面,其中小角度界面的取向差为2~15°,大角度界面的取向差大于或等于15°,统计扫描区域中不同取向差的界面比例,并将其归一化,将归一化后的界面比例用界面密度表示,其中小角度界面的界面密度表示为ρ=LGB/A,式中LGB表示小角度界面的界面总长度,A表示扫描区域范围;所述小角度界面的界面总长度LGB通过公式
获得,式中n为扫描区域内构成小角度界面曲线的扫描点数,s为扫描步长范围。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于钢铁研究总院;中联先进钢铁材料技术有限责任公司,未经钢铁研究总院;中联先进钢铁材料技术有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810254056.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。