[发明专利]一种利用EBSD测量钢中位错密度的方法有效

专利信息
申请号: 201810254056.8 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN108535295B 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 张正延;柴锋;罗小兵;杨才福;苏航;师仲然 申请(专利权)人: 钢铁研究总院;中联先进钢铁材料技术有限责任公司
主分类号: G01N23/203 分类号: G01N23/203;G01N23/207;G01N23/2206
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 龚颐雯;姬长平
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种利用EBSD测量钢中位错密度的方法。该方法包括制备标准试样和若干个待测试样,将上述试样依次放入带有EBSD的扫描电镜中,扫描并记录扫描数据,处理所述扫描数据,确定标准试样的小角度界面的界面密度ρ和待测试样的小角度界面的界面密度ρ,测定标准试样的位错密度d,根据公式d=k·ρ计算常数k,再根据公式d=k·ρ计算待测试样的位错密度。相较于其他传统测量钢中位错密度的方法,此方法更为便捷、准确,还能直观的观测对比不同钢材间的位错密度。
搜索关键词: 标准试样 待测试样 位错 中位 测量 传统测量 记录扫描 扫描电镜 扫描数据 放入 制备 钢材 扫描 观测 直观
【主权项】:
1.一种利用EBSD快速测量钢中位错密度的方法,其特征在于:(1)试样制备:制备标准试样和若干个待测试样;(2)试样EBSD扫描:将上述试样依次放入带有EBSD的扫描电镜中扫描,并记录扫描数据;(3)数据处理:处理所述扫描数据,确定标准试样的小角度界面的界面密度ρ和待测试样的小角度界面的界面密度ρ,测定标准试样的位错密度d,根据公式d=k·ρ计算常数k;(4)确定待测试样的位错密度:根据公式d=k·ρ计算待测试样的位错密度;所述步骤(3)中利用CHANNEL5软件对扫描数据进行降噪处理,去除误标数据,标注扫描区域中的小角度界面和大角度界面,其中小角度界面的取向差为2~15°,大角度界面的取向差大于或等于15°,统计扫描区域中不同取向差的界面比例,并将其归一化,将归一化后的界面比例用界面密度表示,其中小角度界面的界面密度表示为ρ=LGB/A,式中LGB表示小角度界面的界面总长度,A表示扫描区域范围;所述小角度界面的界面总长度LGB通过公式获得,式中n为扫描区域内构成小角度界面曲线的扫描点数,s为扫描步长范围。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于钢铁研究总院;中联先进钢铁材料技术有限责任公司,未经钢铁研究总院;中联先进钢铁材料技术有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810254056.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top