[发明专利]一种用于检测验钞图像传感器的方法及装置有效
申请号: | 201810258069.2 | 申请日: | 2018-03-27 |
公开(公告)号: | CN108668125B | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 张新宇 | 申请(专利权)人: | 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人: | 阎昱辰 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于检测验钞图像传感器的方法及装置,包括如下步骤:被测传感器和治具传感器均曝光,治具传感器采集反射校验纸张的第一面反射图像,被测传感器采集反射校验纸张的第二面反射图像;处理第一面反射图像信息得到第一反射指标,处理第二面反射图像信息得到第二反射指标;被测传感器曝光,治具传感器采集透射校验纸张的第一面透射图像,处理第一面透射图像得到第一透射发光指标;治具传感器曝光,被测传感器采集透射校验纸张的第二面透射图像,处理第二面透射图像得到第二透射发光指标;根据第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果。所述装置用于实现所述方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 图像传感器 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测验钞图像传感器的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:被测传感器和治具传感器均曝光,治具传感器采集所述反射校验纸张的第一面反射图像,被测传感器采集所述反射校验纸张的第二面反射图像;处理所述第一面反射图像信息得到第一反射指标,处理所述第二面反射图像信息得到第二反射指标;被测传感器曝光,治具传感器采集所述透射校验纸张的第一面透射图像,处理所述第一面透射图像得到第一透射发光指标;治具传感器曝光,被测传感器采集所述透射校验纸张的第二面透射图像,处理所述第二面透射图像得到第二透射发光指标;根据所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果。
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