[发明专利]虚拟现实设备的畸变参数测量方法及其装置、测量系统有效

专利信息
申请号: 201810259343.8 申请日: 2018-03-27
公开(公告)号: CN108510549B 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 孙玉坤;张浩;陈丽莉;苗京花;赵斌;王雪丰;李文宇;李茜;王立新;索健文;刘亚丽;王亚坤 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G06T7/80 分类号: G06T7/80
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种虚拟现实设备的畸变参数测量方法及其装置、测量系统,该测量方法包括:根据预设畸变系数获取反畸变网格图像;获取在预设观察点处的所述反畸变网格图像经过待测光学元件后的网格图像;获取经过待测光学元件后的所述网格图像的畸变类型;根据所述网格图像的畸变类型调整所述预设畸变系数,以减小所述网格图像的畸变。该测量方法可以获得较为准确的畸变系数。
搜索关键词: 虚拟现实 设备 畸变 参数 测量方法 及其 装置 测量 系统
【主权项】:
1.一种虚拟现实设备的畸变参数测量方法,其特征在于,包括:根据预设畸变系数获取反畸变网格图像;获取在预设观察点处的所述反畸变网格图像经过所述虚拟现实设备的待测光学元件后的网格图像;确定经过待测光学元件后的所述网格图像的畸变类型;根据所述网格图像的畸变类型调整所述预设畸变系数,以减小所述网格图像的畸变。
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