[发明专利]一种多辐射单元天线测试箱及测试方法有效
| 申请号： | 201810263977.0 | 申请日： | 2018-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN108594027B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 燕怒;李达;韩冬桂;沈程砚丹;彭亚文;李柏杨;杨婷;朱鑫;罗娟 | 申请（专利权）人： | 武汉纺织大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R29/08 |
| 代理公司： | 武汉泰山北斗专利代理事务所(特殊普通合伙) 42250 | 代理人： | 程千慧 |
| 地址： | 430073 *** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多辐射单元天线测试箱及测试方法，包括测试箱主体和多个天线放置架，测试箱主体包括箱体和箱盖，箱盖用于打开或关闭测试箱主体，箱盖关闭后测试箱主体形成密封结构，天线放置架用于放置多辐射单元天线，天线放置架包括放置板和调节杆，调节杆与放置板垂直且下端固定在放置板上，调节杆与箱体活动连接，调节杆用于调节放置板的高度，测试箱主体上还设置有高度对比装置，高度对比装置用于显示天线放置架与箱体之间的相对高度的变化。本发明可以测试多辐射单元天线在竖直方向上的高度对天线性能的影响，天线的高度调节方便，相对高度读取直观，通过高度对比装置可以判断两个天线放置架是否处于同一水平位置，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 单元 天线 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种多辐射单元天线测试箱，其特征在于，包括测试箱主体和多个天线放置架，所述天线放置架个数与天线的辐射单元数量相同，所述测试箱主体包括箱体(1)和箱盖(2)，所述箱盖(2)用于打开或关闭测试箱主体，箱盖(2)关闭后所述测试箱主体形成密封结构，所述天线放置架用于放置多辐射单元天线，且所述天线放置架的高度可调节，所述测试箱主体上还设置有高度对比装置，所述高度对比装置用于显示天线放置架的相对高度的变化。
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