[发明专利]测量梯度延时和一阶场不均匀度的装置、方法及存储介质

摘要

本发明提供测量梯度延时和一阶场不均匀度的装置、方法及计算机存储介质。方法包括：向MRI系统的脉冲序列发生器发送第一梯度模式触发指令，以使得：脉冲序列发生器控制梯度波形发生器输出+‑脉冲，控制射频发射机输出第一射频脉冲；向脉冲序列发生器发送第二梯度模式触发指令，以使得：脉冲序列发生器控制梯度波形发生器输出‑+脉冲，控制射频发射机输出第二射频脉冲；根据+‑脉冲对应的第一回波的产生时刻、‑+脉冲对应的第二回波的产生时刻，计算MRI系统的梯度延时和一阶场不均匀度。本发明能够同时测量MRI系统的梯度延时和一阶场不均匀度。

主权项

1.测量梯度延时和一阶场不均匀度的装置，其特征在于，该装置包括：脉冲设置模块，用于设置第一梯度脉冲和第一射频脉冲为：所述第一梯度脉冲为正负脉冲，所述第一射频脉冲的持续输出时间为：所述第一梯度脉冲的第一平台持续时间内；且设置第二梯度脉冲和第二射频脉冲为：所述第二梯度脉冲为与所述第一梯度脉冲极性相反的脉冲即负正脉冲，所述第二射频脉冲的持续输出时间为：所述第二梯度脉冲的第一平台持续时间内；将设置的第一梯度脉冲和第一射频脉冲信息，以及第二梯度脉冲和第二射频脉冲信息发送给MRI系统的脉冲序列发生器；其中，所述第一梯度脉冲和所述第二梯度脉冲的包络和输出持续时间相同，所述第一射频脉冲和所述第二射频脉冲的包络和输出持续时间相同；测量控制模块，用于向所述脉冲序列发生器发送第一梯度模式触发指令，以使得：所述脉冲序列发生器接收到所述第一梯度模式触发指令后，根据所述第一梯度脉冲和第一射频脉冲信息，控制所述MRI系统的梯度波形发生器输出所述第一梯度脉冲，并控制所述MRI系统的射频发射机在第一时间间隔后输出所述第一射频脉冲，控制所述MRI系统的接收机在接收时间窗内接收第一回波；向所述脉冲序列发生器发送第二梯度模式触发指令，以使得：所述脉冲序列发生器接收到所述第二梯度模式触发指令后，根据所述第二梯度脉冲和第二射频脉冲信息，控制所述MRI系统的梯度波形发生器输出所述第二梯度脉冲，并控制所述MRI系统的射频发射机在第二时间间隔后输出所述第二射频脉冲，控制所述MRI系统的接收机在接收时间窗内接收第二回波，其中，所述第一时间间隔等于所述第二时间间隔；计算模块，用于根据所述MRI系统的接收机接收到的第一回波，计算所述第一回波的产生时刻；根据所述接收机接收到的第二回波，计算所述第二回波的产生时刻；根据所述第一回波的产生时刻、所述第二回波的产生时刻，计算所述MRI系统的梯度延时和一阶场不均匀度。