[发明专利]一种电子元器件的局部的特征识别方法、装置及设备在审
| 申请号： | 201810281850.1 | 申请日： | 2018-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN110348268A | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | 何德裕;朱文飞;彭显明 | 申请（专利权）人： | 鲁班嫡系机器人（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/32;G06K9/62;G06T7/70 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518173 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子元器件的局部的特征识别方法、装置及自动化设备，所述电子元器件的局部的特征识别方法包括获取包括电子元器件的局部的图像；基于预先经过训练的模型，检测所述图像，识别出所述图像中的电子元器件的局部的特征。采用本发明的技术方案，通过机器学习的方法识别电子元器件的局部的特征，能够提高电子元器件的局部的特征识别的工作效率及准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 特征识别 图像 装置及设备 自动化设备 方法识别 工作效率 机器学习 准确率 检测 | ||
【主权项】：
1.一种电子元器件的局部的特征识别方法，其特征在于，所述电子元器件的局部的特征识别方法包括获取包括电子元器件的局部的图像；基于预先经过训练的模型，检测所述图像，识别出所述图像中的所述电子元器件的局部的特征。
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