[发明专利]一种二维相交测线静校正处理方法、装置及系统有效
申请号: | 201810282210.2 | 申请日: | 2018-04-02 |
公开(公告)号: | CN108828669B | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 吕景峰;王乃建;陈学强;闫智慧;苏欢欢;段孟川 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司 |
主分类号: | G01V1/36 | 分类号: | G01V1/36 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请实施例公开了一种二维相交测线静校正处理方法、装置及系统,所述方法包括获取目标工区内二维相交测线的表层构造参数数据,所述表层构造参数包括:高速顶界面高程以及风化层速度;计算所述相交测线的交点处两条测线的表层构造参数的差值;根据所述表层构造参数的差值对所述相交测线的表层构造参数数据进行修正处理;根据修正后的表层构造参数数据确定所述二维相交测线的基准面静校正量。利用本申请各个实施例,可以简单高效地解决二维相交测线交点处静校正闭合的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 二维 相交 测线静 校正 处理 方法 装置 系统 | ||
【主权项】:
1.一种二维相交测线静校正处理方法,其特征在于,包括:获取目标工区内二维相交测线的表层构造参数数据,所述表层构造参数包括:高速顶界面高程以及风化层速度;计算所述相交测线的交点处两条测线的表层构造参数的差值;根据所述表层构造参数的差值对所述相交测线的表层构造参数数据进行修正处理;根据修正后的表层构造参数数据确定所述二维相交测线的基准面静校正量。
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