[发明专利]一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板有效
| 申请号： | 201810284117.5 | 申请日： | 2018-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN108732427B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 姜涌泉;白杨;王玉伟;孔德旺 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 周娇娇;张沫 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板，包括：反射面板基底层、反射面板金属层、均匀介质层和多个无源单元结构；所述反射面板金属层铺覆在所述反射面板基底层的表面；所述均匀介质层铺覆在所述反射面板金属层的表面；所述多个无源单元结构铺覆在所述均匀介质层表面。本方案能够补偿到达测试区域的电磁波的相位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 紧缩 暗室 测试 相位 补偿 反射 面板 | ||
【主权项】：
1.一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板，其特征在于，包括：反射面板基底层、反射面板金属层、均匀介质层和多个无源单元结构；所述反射面板金属层铺覆在所述反射面板基底层的表面；所述均匀介质层铺覆在所述反射面板金属层的表面；所述多个无源单元结构铺覆在所述均匀介质层表面。
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