[发明专利]具有可调变起始电压的Mosfet组件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810285081.2 申请日: 2018-04-02
公开(公告)号: CN108520898A 公开(公告)日: 2018-09-11
发明(设计)人: 廖奇泊;陈俊峰 申请(专利权)人: 北京绿能芯创电子科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 庄文莉
地址: 101300 北京市顺*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种具有可调变起始电压的Mosfet组件及其制造方法,具有可调变起始电压的Mosfet组件包括保护层等,N型漏极区位于N型碳化硅外延区的底端,轻参杂P型区和P阱区都位于N型碳化硅外延区的顶端,P型离子层和N型源极区都位于P阱区的上方,N型源极区和P阱区都位于轻参杂P型区的侧面,轻参杂P型区位于闸极氧化层的外侧,多晶闸区位于闸极氧化层内。本发明可以调整闸极沟槽的表面参杂浓度,在不改变P陷区浓度的前提下调整组件的起始电压,解决了传统沟槽式Mosfet为了组件耐压需要提高P阱区浓度造成起始电压升高的问题。
搜索关键词: 起始电压 可调 闸极 外延区 氧化层 传统沟槽 调整组件 保护层 底端 多晶 耐压 闸区 制造 升高 侧面
【主权项】:
1.一种具有可调变起始电压的Mosfet组件,其特征在于,包括保护层、金属层、连接层、P型离子层、ILD电介层、N型源极区、多晶闸区、闸极氧化层、轻参杂P型区、P阱区、N型碳化硅外延区、N型漏极区,N型漏极区位于N型碳化硅外延区的底端,闸极氧化层、轻参杂P型区、P阱区都位于N型碳化硅外延区的顶端,P型离子层和N型源极区都位于P阱区的上方,N型源极区和P阱区都位于轻参杂P型区的侧面,轻参杂P型区位于闸极氧化层的外侧,多晶闸区位于闸极氧化层内,N型源极区、多晶闸区、闸极氧化层、轻参杂P型区都位于ILD电介层的下方,连接层位于ILD电介层的外侧,连接层和ILD电介层都位于金属层的底端,金属层位于保护层的底端。
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