[发明专利]一种适于曲面的高精度测温结构在审
| 申请号： | 201810307451.8 | 申请日： | 2018-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN108458811A | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 高波;罗二仓;潘长钊;张海洋;陈燕燕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01K13/00 | 分类号： | G01K13/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种适于曲面的高精度测温结构，其包括：至少一个测温块；一被测物；所述测温块与所述被测物相配合，在测温块和被测物之间垫有铟箔。本发明通过测温块与被测物的良好热接触，以及温度计与测温块的良好热接触，实现曲面表面的精确测温；测温块安装方便，可以在不改变原有结构的情况下，直接进行曲面的温度测量；可拆卸，实现曲面不同点的温度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测温块 被测物 测温 温度测量 热接触 安装方便 曲面表面 可拆卸 温度计 铟箔 配合 | ||
【主权项】：
1.一种适于曲面的高精度测温结构，其包括：至少一个测温块；一被测物；其特征在于：所述测温块与所述被测物相配合，在测温块和被测物之间垫有铟箔。
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