[发明专利]版图数据检查分配方法有效

专利信息
申请号: 201810319793.1 申请日: 2018-04-11
公开(公告)号: CN108595795B 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 张兴洲;张燕荣 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种版图数据检查分配方法,包括如下步骤:步骤一,抽取版图中的各个层次的信息;步骤二,计算每个层次的多边形图形的数目;步骤三,计算设计规则检查演算式的层次的系数;步骤四,根据图形数目和系数,推算层次的加载系数;步骤五,根据加载系数,将层次分配到不同的分布式处理器做检查。本发明解决了现有技术中处理检查大规模的物理版图数据运算时间过长、速度较慢的问题。
搜索关键词: 版图 数据 检查 分配 方法
【主权项】:
1.一种版图数据检查分配方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,抽取版图中的各个层次的信息;步骤二,计算每个层次的多边形图形的数目;步骤三,计算设计规则检查演算式的层次的系数;步骤四,根据图形数目和系数,推算层次的加载系数;步骤五,根据加载系数,将层次分配到不同的分布式处理器做检查。
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