[发明专利]SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板有效
| 申请号： | 201810326922.X | 申请日： | 2018-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN108572312B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 王小强;王之哲;罗军;唐锐;刘鹏 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 陈金普 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板。所述方法包括：获取待测SoC芯片的芯片架构类型，根据芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库生成芯片测试程序，测试程序框架用于完成多种芯片架构类型的测试项，芯片接口驱动函数数据库包括完成各测试项的接口驱动函数，根据测试程序对待测SoC芯片进行测试。本方法能够根据待测SoC芯片的芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库可以生成适用于该待测SoC芯片的测试程序，并对待测SoC芯片进行测试，可以通用于各种不同芯片架构类型的待测芯片的测试，避免对各种SoC芯片进行单独开发测试程序，以及减少单独开发测试程序所耗费的人力和时间，降低SoC芯片测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | soc 芯片 测试 方法 装置 系统 验证 | ||
【主权项】：
1.一种SoC芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测SoC芯片的芯片架构类型；根据所述芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库生成芯片测试程序，其中，所述测试程序框架用于完成多种芯片架构类型的测试项，所述芯片接口驱动函数数据库包括完成各所述测试项的接口驱动函数；根据所述测试程序对所述待测SoC芯片进行测试。
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